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Instrumentation, Mesure, Métrologie

1631-4670
Revue des Systèmes
 

 ARTICLE VOL 15/1-2 - 2016  - pp.121-136  - doi:10.3166/i2m.15.1-2.121-136
TITRE
Impact de la valeur seuil d’émission d’un laser sur l’analyse quantitative en spectrométrie Raman

TITLE
Impact of the threshold value issue of laser on quantitative analysis in Raman spectrometry

RÉSUMÉ

Durant une expérience de spectroscopie Raman, l’intensité du signal Raman dépend à la fois de la longueur d’onde d’excitation, de la puissance laser et du temps d’exposition. Il est généralement admis que le signal Raman double avec le doublement de la puissance laser. Cependant, nous montrons dans cet article que pour des valeurs faibles de puissance, la prise en compte de la valeur indiquée par la diode de sortie du laser peut engendrer des erreurs dans l’exploitation quantitative des signaux. Nous montrons notamment cet impact sur l’analyse de deux matériaux en indiquant les précautions à prendre pour comparer des rés ultats avec une grande précision lorsque des analyses sont effectuées dans des conditions différentes. Une méthode de calibration est alors proposée.



ABSTRACT

During a Raman spectroscopy experiment, measurement can be affected both by the excitation wavelength, the laser power and the exposure time. It is generally accepted that the Raman signal will be doubled if the laser power is doubled. However, we show in this paper that for low values of power if we take into account the value indicated by the output laser diode, it can cause dramatic errors in the quantitative comparison of Raman signal. We evidence this impact particularly on the analysis of two materials and we indicate the precautions to be taken to compare results with high reliability specifically when Raman spectra are recorded under different conditions. A simple calibration method is then proposed.



AUTEUR(S)
David SINISCALCO, Nicolas DELORME, Patrick SIMON, Jean-François BARDEAU

MOTS-CLÉS
spectroscopie Raman, précision, puissance laser, temps, longueur d’onde.

KEYWORDS
Raman spectroscopy, reliability, laser power, time, wavelength

LANGUE DE L'ARTICLE
Français

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