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Instrumentation, Mesure, Métrologie

1631-4670
Revue des Systèmes
 

 ARTICLE VOL 15/1-2 - 2016  - pp.137-160  - doi:10.3166/i2m.15.1-2.137-160
TITRE
Banc de tests et de caractérisation pour la mesure optique, thermique et électrique des LED

TITLE
Test and characterization bench design with monitoring for optical and thermal,

RÉSUMÉ

La fiabilité des LED n’est plus aujourd’hui reliée à une problématique d’endurance mais plutôt à des défaillances soudaines liées au design ou à des défauts de process. Il est alors très important d’être en mesure de détecter de telles défaillances durant des tests de fiabilité pertinents plutôt que de simples a nalyses binaires de comportement. En effet, si les paramètres communs comme le flux lumineux ou la tension sont suffisants pour estimer la durée de vie des LED, ces paramètres montrent peu d’intérêt pour qualifier la fiabilité et limiter les risques de ret our au constructeur. Nous présentons ici un nouveau type de banc de mesures et les paramètres associés dont la mesure est réalisée avant et après tests, et permettent une qualification poussée des LED :

- Paramètres thermiques : température de jonction (Tj), fonction de structure à partir du chemin thermique ;

- Paramètres électriques : courbes IV, luminescence bas courant, Vf bas courant ;

- Paramètres optiques : spectre, ratio bleu/blanc



ABSTRACT

Reliability engineers no longer deal with endurance problems for LED but rather with sudden failures which are due to design or process defects. It is therefore highly important to be able to detect such potential failures during reliability tests instead of using the too poor pass/fail analysis. Indeed, if commonly used parameters like flux and forward voltage are sufficient to estimate the LED lifetime, they show low efficiency in pro ving LED robustness and limiting the risk for warranty returns. We present here a new sensor test bench and the critical measurements that could be conducted before and after test.

- Thermal parameters: junction temperature (Tj) monitoring, structure function of the heat path.

- Electrical parameters: IV curves, low current luminescence, low current Vf.

- Optical parameters: spectrum, blue/white ratio.



AUTEUR(S)
Sidahmed BEDDAR, Guillaume THIN, Jean-Baptiste MILLET, Yasser ALAYLI

MOTS-CLÉS
température de jonction (Tj), JEDEC51 -1., SSL/LED, étude thermique, durée de vie, fiabilité, capteurs banc de test

KEYWORDS
junction temperature (Tj), JEDEC51 -1., SSL/LED, thermal management, lifetime, reliability, sensor test bench

LANGUE DE L'ARTICLE
Français

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