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Instrumentation, Mesure, Métrologie

1631-4670
Revue des Systèmes
 

 ARTICLE VOL 5/1-2 - 2005  - pp.201-238
TITRE
Utilisation des microscopies en champ proche pour la caractérisation de surfaces de faible rugosité. Application à l'étude de l'évolution de la surface de fibre optique et d'étalon de masse

RÉSUMÉ

La microscopie en champ proche optique appelée SNOM pour Scanning Near Field Microscopy a été appliquée à l'étude de la formation du champ proche, de la fluorescence en champ proche, de la propagation de plasmon ou de modes guidés... Dans le cadre de cette présentation nous présentons une application particulière du SNOM qui concerne l'étude de surfaces de faible rugosité et pour certaines, l'étude de l'évolution temporelle de leur rugosité.

ABSTRACT

The Scanning Near field Optical Microscopy (SNOM) has been used for studying the optical near field distribution, the near field emission of fluorescent particles, the plasmons or the eigen mode of integrated optical waveguide. The purpose of this article concerns a particular application of the SNOM : the study of surfaces with low roughness and for certain cases the analysis of the ageing effect on the surface.

AUTEUR(S)
Youssef HAIDAR, Lotfi BERGUIGA, Frédérique DE FORNEL, Laurent SALOMON, Alain GOURONNEC, Chouki ZERROUKI, Patrick PINOT

MOTS-CLÉS
microscopie en champ proche, régulation shear-force, rugosité, étalon de masse, fibre optique, fiabilité.

KEYWORDS
SNOM, shear-force regulation, roughness, standard mass, optical fiber, reliability. RS - I2M ­ 5/2005. Mesures à l'échelle du micromètre, pages 201 à 238

LANGUE DE L'ARTICLE
Français

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