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Instrumentation, Mesure, Métrologie

1631-4670
Revue des Systèmes
 

 ARTICLE VOL 5/1-2 - 2005  - pp.7-8
TITRE
Editorial

RÉSUMÉ
L’observation et la caractérisation à des échelles de l’ordre du micromètre, l’utilisation d’objets micrométriques pour développer les moyens d’analyse peuvent sembler quelque peu dépassés et même, si on prend les mots à la lettre, dépassés de trois ordres de grandeur par ce que l’on appelle les nanotechnologies.
[...]

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