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Instrumentation, Mesure, Métrologie

1631-4670
Revue des Systèmes
 

couverture du numéro

Caractérisations à l'échelle du micromètre
sous la direction de LEPOUTRE François
 LISTE DES ARTICLES POUR LE VOL 5/1-2 - 2005
Sommaire  [GRATUIT]
- pp.5-6
Editorial  [GRATUIT]
- pp.7-8
Imagerie thermique haute fréquence
Céline FILLOY, Gilles TESSIER, Stéphane HOLÉ, Danièle FOURNIER - pp.9-26
Imagerie tridimensionnelle par microscopie interférentielle à sondes locales multiples. Développement d'un nouvel instrument
Gaël MONERON, Arnaud DUBOIS, François LEQUEUX, Claude BOCCARA - pp.27-32
Mesure de champ de déplacement micrométrique d'une surface par corrélation de sa topographie
Fabien AMIOT, François HILD, Jean-Paul ROGER - pp.33-43
Microscopie photothermique interférométrique. Mesure de diffusivité thermique, d'anisotropie élastique et d'orientation cristallographique
Julien JUMEL, Denis ROCHAIS, François LEPOUTRE - pp.45-72
Composants MEMS accordables pour applications radio-fréquence
Aurélie CRUAU, Charles-Marie TASSETTI, Gaëlle LISSORGUES-BAZIN, Pierre NICOLE, Jean-Paul GILLES - pp.73-96
Les capteurs à réseaux de Bragg fibrés au coeur des matériaux, structures et procédés industriels
Pierre FERDINAND, Véronique MARTY-DEWYNTER, Sylvain MAGNE, Laurent MAURIN, Guillaume LAFFONT, Nicolas ROUSSEL, Pierre-Jean DANIEL, Stéphane ROUGEAULT, Jonathan BOUSSOIR - pp.97-106
Microcapteurs à structures mobiles pour la détection d'espèces gazeuses
Ludivine FADEL, Frédéric LOCHON, Isabelle DUFOUR, Olivier FRANÇAIS - pp.107-129
X-View, un système de détection digital à haute résolution et en temps réel. Contrôle non destructif par rayons X
Sylvie CHAPUY, Marc DIMCOVSKI, Zlatko DIMCOVSKI, Nicolas RABILLER, Mimoza RISTOVA - pp.131-149
Système de photodétection CMOS pour micro-analyses biochimiques
Patrick PITTET, Jean-Marc GALVAN, Guo-Neng LU, Loïc J. BLUM, Béatrice LECA-BOUVIER - pp.151-176
Métrologie thermique dans l'ultraviolet. Application à la microthermique
Benjamin RÉMY, Alain DEGIOVANNI, Denis MAILLET - pp.177-199
Utilisation des microscopies en champ proche pour la caractérisation de surfaces de faible rugosité. Application à l'étude de l'évolution de la surface de fibre optique et d'étalon de masse
Youssef HAIDAR, Lotfi BERGUIGA, Frédérique DE FORNEL, Laurent SALOMON, Alain GOURONNEC, Chouki ZERROUKI, Patrick PINOT - pp.201-238
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