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Instrumentation, Mesure, Métrologie

1631-4670
Revue des Systèmes
 

 ARTICLE VOL 15/3-4 - 2016  - pp.117-127  - doi:10.3166/I2M.15.3-4.117-127
TITRE
Une plateforme pour l’analyse de matériaux par faisceaux d’ions à ARRONAX. Étude de l’effet d’humidité sur les échantillons

TITLE
Aion beam analysis platform at ARRONAX. Study of the moist influence on the samples

RÉSUMÉ

La quantification de la pollution des sols utilisant des méthodes basées sur la détection de rayons X comme les rayons X de fluorescence (XRF) souffre de plusieurs bias (humidité, état de surface) particulièrement lors d’analyse in-situ avec un P-XRF (portable - XRF). Dans le but d’étudier l’effet de l’humidité des échantillons sur les résultats obtenus avec des rayons X, nous avons effectués des études en utilisant la méthode PI XE/PIGE à haute énergie au cyclotron ARRONAX. Les échantillons utilisés sont composés de différents type de sable. L’utilisation de la méthode PIXE/PIGE à haute énergie nous permets de nous affranchir de l’état de surface pour pouvoir nous concentrer sur l’effet de l’humidité. Elle permet également de déterminer la composition des échantillons. Les résultats montrent des comportements différents pour chaque élément présent dans le sable volcanique.



ABSTRACT

Quantification of soil pollution with methods based on X -ray detection like X-Ray Fluorescence (XRF) suffers of multiple bias (moisture, surface state) especia lly when it’s used for in-situ analysis using portab le-XRF. In order to study the effect of moisture on the results of an analysis performed using X-Ray, we have performed studies using high energy PIXE/PIGE at ARRONAX. Samples were made of sand of different types. High energy PIXE/PIGE allows us to avoid bias from surface state and to focus on moisture effect. It also allows to assess the chemical composition of the sample. Results show a different behavior for each element present in volcanic sand.



AUTEUR(S)
Alexandra SUBERCAZE, Arnaud GUERTIN, Ferid HADDAD, Mostafa HAZIM, Ferid HADDAD, Liliane JEAN-SORO, Charbel KOUMEIR, Vincent METIVIER, Nathalie MICHEL, Catherine NEEL, Ahmed RAHMANI, Noël SERVAGENT

MOTS-CLÉS
Analyse par faisceau d’ions, PIXE/PIGE à haute énergie, P-XRF

KEYWORDS
on beam analysis, High energy PIXE/PIGE, P-XRF

LANGUE DE L'ARTICLE
Français

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